김덕기 세종대 교수, ‘차세대 반도체 첨단 계측 및 표준화 국제 워크숍’ 개최

한주연 기자 / 2026-03-09 11:08:31

[HBN뉴스 = 한주연 기자] 세종대학교는 반도체시스템공학과 김덕기 교수가 영국 National Physical Laboratory(NPL) 의 Fernando Castro 교수, 성균관대학교 권석준 교수와 함께 ‘차세대 반도체 첨단 계측 및 표준화 국제 워크숍(’을 지난 2월 12일부터 13일까지 세종대학교 대양AI센터에서 개최했다고 9일 밝혔다. 

 

  세종대에서 지난 2월 12일과 13일 양일간 개최된 ‘차세대 반도체 첨단 계측 및 표준화 국제 워크숍’ 참석자들이 기념 촬영을 하고 있다. [사진=세종대학교]

 

이번 워크숍은 한국, 영국, 미국, 대만 등 반도체 분야 연구자와 전문가들이 한자리에 모여 차세대 반도체 기술 경쟁력 확보를 위한 첨단 계측 기술과 국제 표준화 전략을 논의하기 위해 마련됐다. 참가자들은 반도체 산업의 패러다임 전환 속에서 계측 기술과 표준화의 중요성이 더욱 커지고 있다는 점을 공유하며 글로벌 협력 방향을 모색했다.

 

행사는 정책 및 산업 비전을 공유하는 기조 발표로 시작됐다. 주영창 서울대학교 교수(전 과학기술정보통신부 혁신본부장)는 반도체 산업의 전략적 중요성과 국가 차원의 표준화 선점 필요성을 강조했다. 이어 Lucy Preston 주한영국대사관 디지털기술정책 과장 은 한·영 간 디지털 및 반도체 협력 확대 가능성과 국제 표준 네트워크 연계 필요성을 제시했다.

 

엄종화 세종대 총장은 환영사를 통해 “차세대 반도체 패러다임 전환기에서 계측과 표준은 기술 경쟁력을 좌우하는 핵심 인프라”라며 “이번 워크숍이 글로벌 협력의 새로운 이정표가 될 것”이라고 밝혔다.

 

이어진 기술 세션에서는 첨단 계측 및 소재 기술 관련 발표가 진행됐다. Cardiff University의 Naresh Gunasekar 교수는 차세대 반도체 구조 분석을 위한 정밀 계측 접근법을 소개했으며, 한양대학교 정문석 교수는 저차원 소재 기반 소자의 특성 평가 사례를 발표했다. 성균관대학교 권석준 교수는 기능성 박막 및 집적공정에서의 표준화 방향을 제시했고, University of Manchester의 Patrick Parkinson 교수는 나노스케일 광학·전자 계측 분야의 최신 연구 동향을 공유했다.

 

국가 표준기관의 역할과 전략도 함께 논의됐다. KRISS의 김정원 박사와 박인용 박사는 국내 반도체 계측 표준 인프라 현황과 향후 계획을 소개했으며, 미국 NIST의 Joseph Kline 박사는 미국의 반도체 표준화 전략을 발표했다. 영국 NPL의 Gokhan Bakan 박사와 Sebastian Wood 박사는 영국의 계측 기술 및 국제 협력 사례를 공유했다.

 

또한 뉴로모픽 및 차세대 소자 분야 연구도 소개됐다. 대만 ITRI의 Shen-Chuan Lo 박사는 산업계 관점에서 차세대 반도체 응용 수요를 설명했고, 연세대학교 박철민 교수는 고분자 기반 전자소자 연구 동향을 발표했다. Cambridge University의 Manish Chhowalla 교수는 2차원 소재 기반 전자소자와 뉴로모픽 응용 가능성을 제시했으며, 세종대학교 Faisal Ghafoor 박사는 관련 소자 집적 및 응용 기술을 소개했다.

 

이번 워크숍을 기획한 김덕기 교수는 “차세대 반도체 기술 경쟁은 소자 성능을 넘어 정밀 계측과 국제 표준 선점으로 확대되고 있다”며 “이번 워크숍은 한국과 영국을 중심으로 글로벌 표준화 협력 로드맵을 구체화한 의미 있는 자리”라고 강조했다. 

[ⓒ HBN뉴스. 무단전재-재배포 금지]

뉴스댓글 >

SNS